適合倒置顯微鏡使用，冷熱臺從正面裝夾樣品后，顯微觀察的時候倒置在載物臺上。該型號冷熱臺的樣品采用特殊的螺紋卡套結構固定樣品。
一、儀器用途：
適合倒置顯微鏡使用，冷熱臺從正面裝夾樣品后，顯微觀察的時候倒置在載物臺上。該型號冷熱臺的樣品采用特殊的螺紋卡套結構固定樣品。
二、儀器主要技術參數：
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型號 |
XDL190 |
XDF30 |
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制冷方式 |
液氮 |
半導體 |
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溫控范圍 |
-190℃~300℃ |
-30℃~120℃ |
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溫度精度 |
±0.1 |
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溫度分辨率 |
0.1℃ |
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最大加熱速率 |
50℃/min |
50℃/min |
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最大冷卻速率 |
-30℃/min |
-40℃/min |
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樣品臺大小 |
Φ14mm |
30*30mm |
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最大振幅 |
≤2μm |
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最小物鏡工作距離 |
3.5mm |
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最小聚光鏡工作距離 |
20mm |
12mm |
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外觀尺寸 |
100×145×43mm |
151×109×19mm |
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腔體凈重 |
0.9kg |
0.8kg |
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配套 |
石英片、石英皿、聚四氟乙烯塞 |
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新聞資訊
